印制板及其組件(PCB&PCBA)是電子產(chǎn)品的核心部件,PCB&PCBA的可靠性直接決定了電子產(chǎn)品的可靠性。為了保證和提高電子產(chǎn)品的質量和可靠性,對失效進行全面的理化分析,確認失效的內(nèi)在機理,從而有針對性地提出改善措施。
電子元器件失效分析的目的是借助各種測試分析技術和分析程序確認電子元器件的失效現(xiàn)象,分辨其失效模式和失效機理,確認最終的失效原因,提出改進設計和制造工藝的建議,防止失效的重復出現(xiàn),提高元器件可靠性。
集成電路復雜度與性能要求的持續(xù)攀升,疊加設計、制造、封裝及應用環(huán)節(jié)的潛在風險,導致短路、開路、漏電、燒毀、參數(shù)漂移等關鍵失效模式頻發(fā)。這不僅造成昂貴的器件報廢與系統(tǒng)宕機,更常引發(fā)設計方、代工廠、封測廠與終端用戶間的責任爭議,帶來重大經(jīng)濟損失與信譽風險。
高分子材料性能要求持續(xù)提升,而客戶對高要求產(chǎn)品及工藝的理解差異,導致斷裂、開裂、腐蝕、變色等典型失效頻發(fā),常引發(fā)供應商與用戶間的責任糾紛及重大經(jīng)濟損失。
金屬構件服役環(huán)境日益苛刻,對材料性能和結構可靠性提出更高要求。然而,設計缺陷、材料瑕疵、制造偏差或不當使用等因素,極易引發(fā)疲勞斷裂、應力腐蝕開裂、氫脆、蠕變、磨損、過載變形等典型失效。
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符合IPC標準仍失效?90%工廠都忽視的OSP膜厚耐受漏洞
發(fā)布時間: 2025-08-15 00:00
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OSP表面處理工藝具有控制簡單、成本低廉、表面平整等優(yōu)點,越來越廣泛應用于PCB生產(chǎn)制造中。然而,在實際生產(chǎn)過程中,工藝不良、產(chǎn)品儲存或使用不當?shù)榷既菀讓е翺SP板出現(xiàn)表面變色、膜厚不均勻、焊盤上錫不良、虛焊及焊錫不飽滿等問題。

某OSP 焊盤過兩次爐溫后,波峰焊出現(xiàn)嚴重的上錫不良。降低爐溫后,無可焊性問題。本文將以OSP焊盤上錫不良為例,分析其失效原因與機理,并提出改善建議。

1.外觀檢查

NG PCBA多數(shù)波峰焊點孔環(huán)表面存在明顯上錫不良現(xiàn)象,呈現(xiàn)退潤濕及不潤濕特征;不潤濕位置呈現(xiàn)OSP膜層顏色,疑似OSP膜層未被去除。


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圖1.NG PCBA上錫不良波峰焊點外觀檢查照片


2.表面分析

潤濕不良位置表面平整,表面無明顯焊錫殘留現(xiàn)象;成分分析顯示,潤濕不良位置未發(fā)現(xiàn)明顯異常元素存在;Cl元素推測來自未去除OSP膜層成分,后續(xù)通過其他分析手段進一步確認。


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圖2.NG PCBA波峰焊點潤濕不良位置形貌觀察及成分分析



3.剖面分析

潤濕不良位置1無明顯焊錫殘留,形貌放大后,局部疑似OSP膜層殘留;

潤濕不良位置2 FIB切割后,明顯發(fā)現(xiàn)OSP膜層殘留現(xiàn)象。

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圖3.NG PCBA波峰焊點潤濕不良位置切片、FIB切割后截面形貌觀察照片


4.OSP膜層成分分析

為了表征OSP有機膜受熱分解程度及對比NG批次PCB光板(命名為樣品A)與對比PCB光板(命名為樣品B)OSP膜層成分是否存在差異,分別對NG批次PCB光板、對比PCB光板、二次回流NG批次PCB光板(命名為樣品C)OSP膜層成分進行分析,結果如下。

4.1 FT-IR分析

  如圖4所示,紅外光譜分析結果顯示:

      ①樣品A OSP膜紅外光譜信息弱,相較于樣品B OSP膜紅外光譜信息弱,表明樣品A OSP膜厚度可能較??;

      ②樣品C OSP膜紅外光譜中出現(xiàn)了新的N-H官能團,表明OSP膜經(jīng)過二次回流可能發(fā)生了結構變化。


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圖4.OSP膜層紅外譜圖


4.2 XPS分析

 XPS分析結果顯示:

①三個樣品孔環(huán)OSP膜表面主要測到 C/O/N/Cl/Cu/Si 等元素,樣品C表面也測到少量的Sn;

②三個樣品表面的Si主要判定為有機硅、N為有機氮、Cl的化學態(tài)包含有機氯和氯化銅;其中A和B樣品表面的成分比較接近:有機物有芳香環(huán)結構(π-π),銅主要為氯化亞銅(CuCl);而樣品C表面未測到明顯的芳香環(huán)結構,且有機物酯類比較明顯,銅主要為氫氧化銅【Cu(OH)2】和氯化亞銅(CuCl)的混合;

③樣品C表面測到的Sn主要為氧化錫。

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圖5. XPS分析譜圖


5.OSP膜厚測試

對樣品A、樣品B及樣品C OSP膜層分別進行觀察及厚度測量,結果如下:

①樣品A與樣品B OSP膜層形貌無明顯差異,但厚度差異明顯;

② 樣品A與樣品C OSP膜層形貌存在明顯差異,樣品C膜層內(nèi)部彌散分布較多顆粒狀物質,而樣品A膜層未觀察到該現(xiàn)象;樣品A、樣品C膜層厚度較樣品B膜層厚度,明顯偏小。

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圖6. FIB切割后OSP膜層觀察及膜層厚度測量結果




6.上錫性驗證

為了確認二次回流NG批次PCB光板確實存在上錫不良現(xiàn)象及降低爐溫后上錫性變正常,對二次回流NG批次PCB光板及降低爐溫后二次回流NG批次PCB光板分別進行上錫性驗證。

(備注:降低爐溫后回流曲線滿足標準IPC 7530A-2017 群焊工藝溫度曲線指南(再流焊和波峰焊)中無鉛回流溫度要求。)


二次回流NG批次PCB光板浸錫后,多數(shù)通孔孔環(huán)表面發(fā)現(xiàn)明顯潤濕不良現(xiàn)象,而降低爐溫后二次回流NG批次PCB光板浸錫后,通孔孔環(huán)潤濕完好。


以上結果表明:當爐溫調(diào)低到標準IPC 7530A-2017 群焊工藝溫度曲線指南(再流焊和波峰焊)中無鉛回流溫度要求的范圍內(nèi)時,NG批次PCB光板上錫正常,即NG批次PCB光板可焊性滿足標準要求;初始爐溫曲線峰值溫度最高245.3℃,位于標準IPC 7530A-2017 群焊工藝溫度曲線指南(再流焊和波峰焊)中無鉛回流溫度要求的上限。

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圖7.降低爐溫后的二次回流爐溫

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圖8.初始爐溫下二次回流爐溫

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圖9.二次回流NG批次PCB光板浸錫后外觀照片

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圖10.降低爐溫后二次回流NG批次PCB光板浸錫后外觀照片

7.錫樣成分測試分析

分析得出錫樣為錫銀銅合金。對于波峰焊接錫爐成分,行業(yè)一般采用錫銅合金,以避免通孔孔銅被過度咬蝕,建議錫爐采用錫銅合金,但本案件中錫爐成分不是導致OSP上錫不良的原因。


8.總結與建議

 對比NG批次PCB光板與對比PCB光板FT-IR、XPS及FIB分析結果可知:二者膜層成分比較接近:有機物有芳香環(huán)結構(π-π),銅主要為氯化亞銅(CuCl),但二者膜厚存在明顯差異,前者與后者OSP膜厚平均值分別為225.9nm、585.5nm,即NG批次PCB光板OSP膜厚明顯偏薄,故其相較于對比PCB光板,耐熱能力偏低。

      綜上所述,二次回流后OSP膜上錫不良的原因包括:

      ①相對較高的回流溫度;

      ②OSP膜相對偏薄,耐熱能力相對偏低。

建議:

      1. 適當降低回流峰值溫度,避免OSP膜層承受較高溫度沖擊;

      2. 適當增加OSP膜層厚度,提高其耐熱能力。


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